Conférences

4 CYCLES DE CONFÉRENCES ET UN CONGRES POUR DÉCRYPTER ET ANTICIPER LES ENJEUX A VENIR


Illustrés avec des cas d’application concrets en Médical, Cosmétique, Agri/Agro, Automobile, Smart Cities/Smart Building, Industrie 4.0…les conférences permettront aux visiteurs d’appréhender les nouveaux enjeux du marché, de découvrir les nouvelles solutions et technologies en Mesure, Vision, Photonique et Electronique et de s’inspirer des meilleures pratiques.

Les conférences seront organisées en partenariat avec des acteurs clés comme l’ASSOCIATION FRANCAISE DU PROTOTYPAGE RAPIDE, CAP’TRONIC, l’EUROPEAN MACHINE VISION ASSOCIATION (EMVA), THEMATYS, Jean-Luc BODNAR (Université de Reims Champagne Ardenne)… autour de thèmes tels que : Fabrication additive, Impression 3D, Contrôles non destructifs, Optique & éclairage, Technologie des caméras, Vision 3D, Usine 4.0, Lifi, Réalité augmentée, Cybersécurité, 5 G, etc.

Le programme des conférences sera disponible fin juin.

Conjointement à ENOVA PARIS, le 18ème Congrès International de Métrologie (CIM) organisé par le Collège Français de Métrologie sera le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure avec 1 000 participants de 50 pays: utilisateurs de moyens de mesure de toutes industries, laboratoires et organismes ; responsables fiabilité et qualité, managers et décideurs ; constructeurs d’appareils de mesure et des prestataires ; enseignants et chercheurs. Il présentera les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et les applications pratiques. Il montrera comment la mesure contribue à améliorer ses processus de mesure, d’analyse et d’essais et à maîtriser ses risques.

Programme complet et inscription bientôt disponibles

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